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五步通關SMD/DIP焊點強度測試:一份不可錯過的推拉力測試機應用流程

 更新時間:2025-08-21 點擊量:68

在現代電子制造領域,PCBA(Printed Circuit Board Assembly)的質量可靠性直接關系到電子產品的使用壽命和性能穩定性。科準測控小編指出,焊接作為電子組裝的核心工藝環節,其質量好壞往往決定了整個產品的可靠性水平。

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據統計,電子產品在使用過程中約60%的失效源于焊接質量問題。特別是隨著電子產品向小型化、高密度化方向發展,焊點尺寸不斷縮小,對焊接強度的要求卻越來越高。

本文科準測控小編將系統介紹PCBA電路板SMD及DIP電子元器件焊接強度測試的技術原理、標準規范、測試設備及操作流程,為電子制造企業提供全面的焊接質量評估方案。

 

一、焊接強度測試原理

焊接強度測試主要通過推拉力測試來模擬焊點在機械應力作用下的失效行為。其基本原理是通過施加可控的機械力(推力或拉力)于電子元器件上,測量焊點失效時的最大載荷值,從而評估焊接連接的機械強度。

測試過程中,推拉力測試機以恒定速率施加力,直到焊點發生失效。失效模式通常包括以下幾種:

1、焊點與PCB焊盤分離

2、焊點與元器件端電極分離

3、元器件內部斷裂

4、焊料本身斷裂

通過分析失效模式和最大載荷值,可以判斷焊接工藝的可靠性,并找出可能的工藝改進方向。

 

二、測試標準規范

1. 主要參考標準

GJB 548:jun用標準,包含多項焊接強度測試方法

方法2019:芯片剪切強度試驗

方法2027:芯片粘結強度試驗

方法2030:芯片粘接的超聲檢測

方法2012:X射線照相檢測

JIS Z 3198:日本工業標準,特別是第6部分專門針對無鉛焊料接合部的可靠性試驗方法

IEC 68-2-21:國際電工委員會標準,關于電子設備環境試驗的第2-21部分:焊接性試驗

2. 判定標準

對于SMT片式電阻、電容等元器件,焊接強度的判定主要基于以下原則:

根據焊接面積計算最小強度要求

參考同類產品的行業標準值

比較同批次產品的測試數據分布

具體數值需根據元器件類型、尺寸和焊盤設計等因素綜合確定,通常供應商會提供推薦的標準值范圍。

 

三、測試儀器介紹

1Alpha W260推拉力測試機

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Alpha W260推拉力測試機是專為微電子封裝可靠性測試設計的高精度設備,特別適合PCBA電路板SMD及DIP電子元器件焊接強度測試需求:

1、設備特點

高精度:全量程采用自主研發的高精度數據采集系統,確保測試數據的準確性。

功能性:支持多種測試模式,如晶片推力測試、金球推力測試、金線拉力測試以及剪切力測試等。

操作便捷:配備專用軟件,操作簡單,支持多種數據輸出格式,能夠wan美匹配工廠的SPC網絡系統。

2、多功能測試能力

支持拉力/剪切/推力測試

模塊化設計靈活配置

3、智能化操作

自動數據采集

SPC統計分析

一鍵報告生成

4、安全可靠設計

獨立安全限位

自動模組識別

防誤撞保護

5夾具系統

多種規格的剪切工具(適用于不同尺寸焊球)

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鉤型拉力夾具

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定制化夾具解決方案

 

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四、測試流程

1. 測試前準備

樣品確認:檢查PCBA外觀,確認無可見缺陷

設備校準:按照操作手冊對推拉力測試機進行力值校準

夾具選擇:根據被測元器件類型選擇合適的推刀或鉤針

參數設置:設置測試速度(通常為0.5-1mm/s)、行程等參數

參考點設定:確定測試工具的初始接觸位置

2. 測試步驟

PCBA固定在測試平臺上,確保穩固無晃動

調整測試工具位置,使其對準被測元器件邊緣(剪切測試)或頂部(拉力測試)

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啟動測試程序,設備自動施加力并記錄數據

觀察失效過程,記錄失效模式和最大力值

重復測試足夠數量的樣品(通常每個型號至少5個樣品)

對失效焊點進行顯微觀察,分析失效機理

3. 數據分析

計算平均強度和標準偏差

與標準要求或歷史數據比較

分析失效模式分布

評估焊接工藝穩定性

五、注意事項

測試過程中應避免測試工具與PCB或其他元器件發生干涉

對于不同尺寸的元器件,應調整測試參數和工具

測試環境應保持穩定,溫度建議控制在23±5℃

測試數據應包含完整的測試條件記錄

 

以上就是小編介紹的有關于PCBA電路板SMD及DIP電子元器件焊接強度測試的相關內容了,希望可以給大家帶來幫助。如果您還對推拉力測試機怎么使用視頻和圖解,使用步驟及注意事項、作業指導書,原理、怎么校準和使用方法視頻,推拉力測試儀操作規范、使用方法和測試視頻,焊接強度測試儀使用方法和鍵合拉力測試儀等問題感興趣,歡迎關注我們,也可以給我們私信和留言。【科準測控】小編將持續為大家分享推拉力測試機在鋰電池電阻、晶圓、硅晶片、IC半導體、BGA元件焊點、ALMP封裝、微電子封裝、LED封裝、TO封裝等領域應用中可能遇到的問題及解決方案。